某企业位于山东省，深耕于半导体与电子元器件的研发、生产及销售领域，在电子元器件与半导体器件行业中占据举足轻重的地位。其产品凭借卓越的性能和可靠性，广泛应用于通信、汽车电子、消费电子等多个高端领域，赢得了市场的高度认可与信赖。

为确保产品在复杂环境下的稳定性和可靠性，该企业亟需引入先进测试设备以满足严苛的研发和生产需求，特采购DHT^®（多禾试验）的桌上型高低温交变试验箱。该设备可精准模拟极端温度条件，全面评估产品性能表现。

一、集成电路（IC）芯片的高低温循环测试

1.测试目的：验证集成电路芯片在极端温度变化下的性能稳定性，确保其在各种环境条件下的可靠性。

2.测试流程：

l  将集成电路芯片样品放置在试验箱内，确保芯片与箱内空气充分接触。

l  设定温度范围（-40°C至+85°C），循环次数（10次）。

l  启动测试，试验箱按照设定的温度曲线进行升温、保温和降温。

l  每个温度点保持1小时，完成一个循环后记录芯片的状态。

l  测试结束后，取出芯片，进行外观检查、电气性能测试（如导通电阻、漏电流等）。

3.执行标准：GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

二、电源模块的低温启动测试

1.测试目的：评估电源模块在低温环境下的启动性能，确保其在寒冷环境中的可靠运行。

2.测试流程：

l  将电源模块样品放置在试验箱内，设定低温环境-20°C。

l  保持低温环境2小时，确保电源模块充分冷却。

l  在低温环境下尝试启动电源模块，记录启动时间和启动电流。

l  启动后，观察电源模块的输出电压和电流稳定性，记录性能参数。

l  测试结束后，取出电源模块，进行性能评估（如输出电压波动、效率变化等）。

3. 执行标准：IEC 60068-2-1:2007环境试验 第2-1部分：试验 试验A：低温

三、电容元件的高温老化测试

1.测试目的：评估电容元件在高温环境下的耐久性和性能稳定性，确保其在长期高温工作条件下的可靠性。

2.测试流程：

l  将电容元件样品放置在试验箱内，设定高温环境85°C。

l  保持高温环境500小时，期间定期检查电容元件的状态。

l  记录电容元件在高温环境下的性能变化，如电容值、等效串联电阻（ESR）等。

l  测试结束后，取出电容元件，进行详细性能评估（如电容值衰减、外观变化等）。

3. 执行标准：GB/T 2423.2-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

通过引入DHT^®（多禾试验）桌上型高低温交变试验箱，该企业不仅完善了产品环境可靠性测试体系，还进一步强化了其在半导体与电子元器件领域的技术优势和市场地位。这一举措充分彰显了该企业对产品质量的极致追求，同时也为推动“中国制造”向更高水平迈进作出了重要贡献。